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DAVE Embedded Systems ti invita al webinar Improving reliability of NAND storage using trace tools, organizzato da Lauterbach e Western Digital.
Imparerai:
- L'impatto dell'usura sull'aspettativa di vita dei dispositivi di archiviazione basati su NAND
- Come configurare la traccia del microprocessore per un dispositivo di archiviazione con una quantità minima o addirittura senza strumentazione di codice
- Stimare la durata della memoria utilizzando i dati di traccia del microprocessore acquisiti
Questo seminario illustrerà come eseguire l'analisi del carico di lavoro della memoria flash NAND gestita per valutare l'invecchiamento della memoria specifico dell'applicazione e ottimizzare il sistema per l'affidabilità e la massima durata. A chi è rivolto questo webinar? È destinato agli sviluppatori di software embedded che lavorano su sistemi in cui l'affidabilità e la durata sono importanti
considerazioni.
Il webinar è un seminario interattivo on-line che puoi guardare in audio-video con il tuo computer, connesso a internet. La presentazione si terrà in inglese e includerà una dimostrazione dal vivo per mostrare le tecniche di registrazione e analisi descritte.
Data e ora:
Giovedì 29 settembre 2022
- 1a sessione 9:00 CEST, della durata di circa 1 ora
- 2a sessione 17:00 CEST, della durata di circa 1 ora
Nota: il webinar si terrà due volte in due orari diversi, ogni partecipante può iscriversi alla prima sessione, alla seconda o ad entrambe.
Agenda:
- Considerazioni sull'utilizzo di dispositivi NAND gestiti
- Registrazione degli accessi alla memoria
- Dimostrazione dal vivo
- Analisi dell'accesso alla memoria
- Confronto con i metodi software
- Conclusione
- Domande e risposte
Organizzatori: Markus Herdin e Maurizio Menegotto di Lauterbach
Relatori: Rudi Dienstbeck e Marco Ferrario di Lauterbach, Matteo Zammattio di Western Digital.
Registrazione:
Il seminario è gratuito, per partecipare è necessario registrarsi a uno di questi link:
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